包頭日置HIOKI IM3533 LCR電橋測(cè)試儀價(jià)格與型號(hào)參數(shù)
- 型號(hào) 類型 IM3533LCR電橋測(cè)試儀
- 制造商 品牌 日置HIOKI
- PDF規(guī)格說(shuō)明書
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功能參數(shù)簡(jiǎn)介：日本日置HIOKI IM353 LCR METER是一款極具性價(jià)比的高端測(cè)試儀，測(cè)量頻率1mHz-200kHz，精度±0.05%，應(yīng)用覆蓋線圈變壓器生產(chǎn)研發(fā)，內(nèi)置低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻，2ms的快速測(cè)試時(shí)間。
IM3533 LCR電橋測(cè)試儀圖片
日置HIOKI IM3533 LCR測(cè)試儀1mHz~200KHz電容電感阻抗高速高精度測(cè)量
日本日置LCR測(cè)試儀IM3533、IM3533-01基本精度達(dá)到±0.05%，大范圍的測(cè)量頻率1mHz~200kHz，最快2ms高速測(cè)量，通過(guò)斷線檢查功能提高了測(cè)量、匝數(shù)比&互阻抗測(cè)量等的可信度，相比以往產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了高性能多功能，是一款極具性價(jià)比的高端測(cè)試儀，覆蓋從產(chǎn)線到研發(fā)領(lǐng)域。
HIOKI IM3533 LCR測(cè)試儀特點(diǎn)
基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣，DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA
在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度是以往產(chǎn)品的10倍
內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻
日置IM3533測(cè)試儀通過(guò)變壓器測(cè)量專用界面，能夠測(cè)量匝數(shù)比N，漏感M，電感差ΔL和溫度補(bǔ)償DCR
IM3533-01能根據(jù)指定的頻率范圍和頻率列表，改變最大801點(diǎn)的頻率后自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量
除標(biāo)準(zhǔn)0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置，內(nèi)置比較器和BIN功能，2ms的快速測(cè)試時(shí)間
應(yīng)用舉例：測(cè)量電容的C-D和ESR，極性電容的C值，測(cè)量電感(線圈·變壓器)的DCR和L-Q，變壓器·卷線測(cè)量，土壤的腐蝕性評(píng)估，智能鎖·防盜碼的天線阻抗測(cè)量；IM3533-01能測(cè)量L,C復(fù)合零件等各種被測(cè)物的頻率特性。
可施加-5V~5V內(nèi)部DC偏壓進(jìn)行測(cè)量，如鉭電容等有機(jī)電容也能放心進(jìn)行測(cè)量
日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | 日置IM3523 LCR測(cè)試儀 | IM3533 LCR測(cè)試儀 | IM3533-01測(cè)試分析儀 |
| 測(cè)量模式 |
LCR模式： 單一條件測(cè)量 連續(xù)測(cè)量模式： 通過(guò)已保存的條件連續(xù)測(cè)量(2條) 用于電線零件、管腳元件和SMD元件 |
LCR模式： 單一條件測(cè)量 變壓器測(cè)量模式： N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差 連續(xù)測(cè)量模式： 通過(guò)保存的條件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量 LCR模式(最多60條) |
LCR模式：?jiǎn)我粭l件測(cè)量 變壓器測(cè)量模式：N,M,ΔL 連續(xù)測(cè)量模式： 通過(guò)已保存的條件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量 LCR模式(最多60條) 分析模式(最多2條) 分析模式：用測(cè)量頻率掃描 (測(cè)量點(diǎn)2~801, 常規(guī)掃頻明細(xì)顯示) |
| 測(cè)量參數(shù) |
Z阻抗[Ω]、Y導(dǎo)納[Ω]、θ相位角[°]、 Rs等效串聯(lián)電阻=ESR[Ω]、 Rp并聯(lián)等效電路的電阻[Ω]、DCR X電抗[Ω]、G電導(dǎo)率[S]、B電納[S]、 Cs串聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、 Cp并聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、 Ls串聯(lián)等效電路的電感[H]、 Lp并聯(lián)等效電路的電感[H]、 D損失系數(shù)=tanδ、Q因素(Q=1/D） |
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流電阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q, N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差, T 應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域， 及電容電感，電氣化學(xué) |
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| 量 程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程, (所有參數(shù)通過(guò)Z規(guī)定)，主機(jī)能保存32000組數(shù)據(jù) | ||
| 顯示范圍 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp ： ±(0.000000[單位]~9.999999G[單位])，Z和Y為絕對(duì)值顯示 θ： ±(0.000°~999.999°)、D： ±(0.000000~9.999999)、Q： ±(0.00~99999.99)、Δ%： ±(0.0000%~999.9999%) |
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| 基本精度 | Z： ±0.05%rdg. θ： ±0.03° | ||
| 測(cè)量頻率 | 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn)) | 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn)) | |
| 信號(hào)等級(jí)與阻抗 |
常規(guī)模式（輸出阻抗100Ω）： V模式·CV模式： 5 mV~5 Vrms, 1mV rms步進(jìn) CC模式： 10 μA~50 mA rms,10μA rms步進(jìn) |
常規(guī)模式（輸出阻抗100Ω）： V模式·CV模式：5mV~5Vrms, 1 mVrms步進(jìn) CC模式：10μA~50mArms, 10μArmsCC步進(jìn) 低阻抗高精度模式（輸出阻抗25Ω）： V模式·CV模式：5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步進(jìn) CC模式：10μA~50mArms, 10μArms步進(jìn) |
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| 顯 示 | 單色LCD | 彩色TFT5.7英寸，顯示可設(shè)置ON/OFF | |
| 測(cè)量時(shí)間與速度 | 2ms(100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值)，速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2 | ||
| DC偏壓 測(cè)量 | - |
常規(guī)模式：-5.00V~5.00V (10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：-2.50V~2.50V (10mV步進(jìn)) |
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| BIN測(cè)量 | 主要參數(shù)10種，輔助參數(shù)1中，范圍外 | 2個(gè)項(xiàng)目10種，范圍外 | |
| 外部接口 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed) 選件：RS-232C/GP-IB/ LAN(10BASE-T/100BASE-TX) 可選擇安裝其中一種 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存儲(chǔ) 選件：RS-232C/GP-IB/LAN，可選擇安裝其中一種 |
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| 尺寸及重量與標(biāo)準(zhǔn)配置 |
[IM3523] 約260W×88H×203D mm,約2.4 kg [IM3533/IM3533-01] 約330W×119H×168D mm,約3.1 kg 標(biāo)配：主機(jī)、電源線、說(shuō)明書、CD-R(通訊說(shuō)明書，軟件) 需結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購(gòu)買合適的測(cè)量探頭和測(cè)試夾具 |
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IM3523測(cè)試儀規(guī)格說(shuō)明書http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf
HIOKI LCR電橋測(cè)試儀探頭治具與通訊接口選件訂貨信息
日置IM3533/IM3533-01：包含主機(jī)、電源線、使用說(shuō)明書、CD-R(通訊說(shuō)明書，樣品軟件)
測(cè)試治具、探頭不是標(biāo)配，請(qǐng)根據(jù)需要另外選購(gòu)選件中的測(cè)試治具和探頭
[選件——外接通訊模塊]
Z3000 GP-IB接口，9151-02 GP-IB連接線；Z3001 RS-232C接口卡，Z3002 LAN接口
9268-10 DC偏置電壓?jiǎn)卧?直連型，40Hz～8MHz，最大施加電壓±40V；9269-10型40Hz～2MHz，2A、±40V
[用于引腳部件測(cè)試——測(cè)試治具、探頭]
L2000 4端子探頭：頻率DC～8 MHz，可測(cè)量端子直徑0.3mm～5 mm
9261-10測(cè)試治具：頻率DC～8 MHz，可測(cè)量端子直徑0.3mm～1.5mm
9140-10 4端子探頭：主機(jī)直連型，DC～8 MHz，可測(cè)0.3mm～2 mm
[SMD測(cè)試治具]
IM9110：直連型，對(duì)應(yīng)0201尺寸，用于側(cè)面電極SMD，電極2端子結(jié)構(gòu)DC～1MHz
IM9100：對(duì)應(yīng)0402,0603,1005這3種尺寸，電極4端子結(jié)構(gòu)可進(jìn)行高精度測(cè)量，DC～8MHz
9677、9699、9263主機(jī)直連型SMD治具
L2001鑷形探頭：頻率8 MHz，前端部分接觸頭IM9901 、IM9902探針可更換
用于電氣化學(xué)分析4端子探頭9500-10，頻率DC～200kHz，可測(cè)量端子直徑0.3～2mm
日本日置LCR測(cè)試儀系列
IM3536：DC 4Hz~8MHz的通用LCR測(cè)試儀，用于電容、電感等電子元件，測(cè)試速度1ms
IM3533測(cè)試儀：DC 1mHz~200kHz，可進(jìn)行變壓器專用測(cè)量，IM3533-01裝有掃頻功能，速度2ms
IM3523：DC 40Hz~200kHz頻率，適用于自動(dòng)設(shè)備組裝、生產(chǎn)線的高性價(jià)比產(chǎn)品，測(cè)試速度2ms
3511-50：120Hz、1kHz測(cè)試頻率，用于小型·單功能的LCR測(cè)試，鋁電解電容的生產(chǎn)線，5ms
3506-10 C測(cè)試儀：1kHz、1MHz頻率，用于低容量電容的C測(cè)試儀，MLCC、薄膜電容生產(chǎn)，1.5ms
3504 C測(cè)試儀：120Hz、1kHz頻率，大容量MLCC的選機(jī)(3504-50/60)、貼片機(jī)(3504-40)，2ms
IM7580A阻抗分析儀：1MHz~300MHz高頻率測(cè)量、IM3570阻抗分析儀：DC 4Hz~5MHz、IM3590化學(xué)阻抗分析儀
