包頭日置HIOKI RM3545-01 微歐計(jì)價(jià)格與型號(hào)參數(shù)
- 型號(hào) 類型 RM3545-01微歐計(jì)
- 制造商 品牌 日置HIOKI
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功能參數(shù)簡(jiǎn)介：日本HIOKI RM3545-01微歐計(jì)帶GP-IB通訊接口及RS-232C、EXT I/O斷口，可靈活組裝進(jìn)已有的自動(dòng)化設(shè)備，電阻量程涵蓋微歐至兆歐0.00μΩ～1200MΩ，基本精度0.006%，最大測(cè)量電流1A，在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余。
RM3545-01 微歐計(jì)圖片
日置HIOKI RM3545-01微歐電阻測(cè)試儀帶GPIB接口
HIOKI日置微歐計(jì)RM3545測(cè)量范圍電阻0.00μΩ～1200.0MΩ，6位半顯示最小分辨率 0.01μΩ，基本精度 0.006%，最大測(cè)量電流1A，在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余，也可以用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。日置RM3545微電阻計(jì)標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)提供EXT I/O接口(判定、BCD、BIN)及RS-232C/PRINTER/USB通訊接口，擴(kuò)展型號(hào)RM3545-01增加了GPIB接口，而RM3545-02則增加了Z2003多路掃描器實(shí)現(xiàn)20通道測(cè)量。
日置HIOKI RM3545-01微電阻計(jì)每個(gè)量程都能選擇電流High/Low，結(jié)合被測(cè)物的特性，通過切換High/Low選擇最合適的測(cè)量電流。對(duì)低功率(LP)電阻測(cè)量，用1mA可進(jìn)行10μΩ分辨率(1000mΩ量程)的測(cè)量，選擇開放端口電壓為20mV以下，最適用于測(cè)量片式電感器或信號(hào)用接點(diǎn)的電阻。RM3545-01微歐計(jì)GPIB接口可在計(jì)算機(jī)的控制下對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行更加靈活方便的傳輸、處理、綜合、利用和顯示，形成較大的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，高效靈活地完成各種不同的測(cè)試任務(wù)，而且組建和拆散靈活，使用方便。EXT I/O的輸出模式可切換判定模式或BCD模式使用。
HIOKI RM3545高精度微歐計(jì)EXT I/O信號(hào)一覽
輸入：
TRIG(IN0), CAL, KEY_LOCK, 0ADJ, PRINT(IN1), MUX, SCN_STEP, LOAD0～LOAD5, BCD_LOW
輸出：
判定模式］ EOM, ERR, INDEX, HI, IN, LO, T_ERR, T_PASS, T_FAIL, BIN0～BIN9, OB, OUT0～OUT2
BCD模式］ EOM, ERR, IN, HILO, BCDm_n*1, RNG_OUT0～RNG_OUT3 *1 m位的n比特
日本HIOKI RM3545-01微電阻計(jì)量程精度規(guī)格表
| 量程 | 分辨率 | 測(cè)量精度 | 測(cè)試電流 | 最大開路電壓 | |||
| FAST | MED | SLOW1 | SLOW2 | ||||
| 10mΩ毫歐 | 10nΩ | 0.060+0.050 | 0.060+0.020 | 0.060+0.020 | 1A | 5.5V | |
| 100mΩ | 100nΩ | 0.060+0.010 | 0.060+0.010 | 0.060+0.010 | 1A | ||
| 1000mΩ/1Ω | 1μΩ微歐 | 0.012+0.010 | 0.012+0.008 | 100mA | |||
| 10Ω | 10μΩ | 0.008+0.010 | 0.008+0.008 | 10mA | |||
| 100Ω | 100μΩ | 0.007+0.005 | 0.007+0.002 | 0.007+0.001 | 10mA | ||
| 1000Ω | 1mΩ | 0.007+0.005 | 0.006+0.002 | 0.006+0.001 | 1mA | ||
| 10kΩ | 10mΩ | 0.008+0.005 | 0.007+0.002 | 0.007+0.001 | 1mA | 20V | |
| 100kΩ | 100mΩ | 0.008+0.005 | 0.007+0.002 | 0.007+0.001 | 100μA | ||
| 1000KΩ | 1Ω | 0.015+0.005 | 0.008+0.002 | 0.008+0.001 | 10μA | ||
| 10MΩ | 10Ω | 0.030+0.005 | 0.030+0.002 | 0.030+0.001 | 1μA | ||
| 100MΩ | 10kΩ | 10.00MΩ以下:0.50+0.02，10.01MΩ以上:1.00+0.02 | <1μA | ||||
| 1000MΩ | 100kΩ | 100.0MΩ以下:1.00+0.02，100.1MΩ以上:10.00+0.02 | <1μA | ||||
| 以上為L(zhǎng)P OFF模式·f.s. = 1,000,000 dgt. 、0.001%f.s. = 10dgt.，下面為L(zhǎng)P ON模式·f.s. = 100,000 dgt | |||||||
| 1000mΩ | 10μΩ | 0.200+0.010 | 0.200+0.010 | 0.200+0.005 | 0.200+0.003 | 1mA | 20mV |
| 10Ω | 100μΩ | 0.200+0.005 | 0.200+0.005 | 0.200+0.003 | 0.200+0.002 | 500μA | |
| 100Ω | 1mΩ | 0.200+0.005 | 0.200+0.005 | 0.200+0.003 | 0.200+0.002 | 50μA | |
| 1000Ω | 10mΩ | 0.200+0.005 | 0.200+0.005 | 0.200+0.003 | 0.200+0.002 | 5μA | |
日置微歐計(jì)RM3545規(guī)格說明書http://www.testeb.com/download/201810/HIOKI_RM3545-01_RM3545-02.pdf
日本日置RM3545微歐計(jì)用戶手冊(cè)說明書http://www.testeb.com/download/201810/HIOKI_RM3545_01-02_Manual.pdf
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