大同美國(guó)ILT SED005-UVF-A313 輻照計(jì)/照度計(jì)價(jià)格與型號(hào)參數(shù)
- 型號(hào) 類型 SED005-UVF-A313輻照計(jì)/照度計(jì)
- 制造商 品牌 美國(guó)ILT
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功能參數(shù)簡(jiǎn)介：International Light ILT2400輻照計(jì)及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機(jī)測(cè)量系統(tǒng)精確度而設(shè)計(jì)，在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應(yīng)，輻照度測(cè)量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波長(zhǎng)的PIR校準(zhǔn)過濾片，帶美國(guó)NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。
SED005-UVF-A313 輻照計(jì)/照度計(jì)圖片
美國(guó)ILT2400+SED005/UVF/A313輻照計(jì)UV LED曝光能量測(cè)量
美國(guó)ILT品牌為各種市場(chǎng)和應(yīng)用提供高精度的光測(cè)量系統(tǒng)，包括照度計(jì)、輻照計(jì)、能量計(jì)，滿足廣泛的需求，解決光測(cè)量的固有困難。國(guó)際光學(xué)International Light測(cè)光表非常適合用作光度計(jì)photometers (勒克斯lux meters)、強(qiáng)度計(jì)intensity meters (坎德拉candela)、固化測(cè)量?jī)x/輻照度計(jì)/光量計(jì)curing meters (劑量和曝光測(cè)量dose and exposure meters)、能量功率計(jì)power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。
ILT UV固化測(cè)量輻照計(jì)ILT2400帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)的儀表和傳感器，測(cè)量速度高達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長(zhǎng)達(dá)8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持式的價(jià)格提供研究級(jí)的質(zhì)量。
大多數(shù)UV紫外線探頭過濾器具有鐘形光譜曲線，峰值相當(dāng)窄。為了提高UV LED測(cè)量系統(tǒng)的精確度，美國(guó)ILT公司將高度穩(wěn)定的InGaAsp傳感器與平坦的玻璃濾光片和石英漫射片相結(jié)合，在用于UV固化的關(guān)鍵區(qū)域提供更均勻的響應(yīng)。ILT2400輻照計(jì)+SED005/UVF/A313探頭組成的測(cè)量系統(tǒng)旨在簡(jiǎn)化對(duì)UV LED曝光機(jī)固化的校準(zhǔn)測(cè)量，專有的傳感器/濾波器/光學(xué)組件由美國(guó)ILT的工程團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)，可提供350-400 nm波段近乎平坦的響應(yīng)。這種平坦的一致的響應(yīng)允許測(cè)量和比較各種紫外LED波長(zhǎng)，而不需要修改讀數(shù)以適應(yīng)傳感器靈敏度的變化。這個(gè)系統(tǒng)也可以用來測(cè)量傳統(tǒng)的紫外線源。
美國(guó)International Light SED005/UVF/A313 UV-LED固化探頭規(guī)格
應(yīng)用：UV LED固化測(cè)量、傳統(tǒng)紫外線固化能量輻照度
測(cè)量范圍： 5e-8至8e-1 W / cm2（0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2）
光譜范圍： 275-450nm （在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的響應(yīng)曲線）
尺寸：直徑29 x 42mm
訂購部件號(hào)
ILT2400+SED005/UVF/A313（可選特定峰值波長(zhǎng)的PIR校準(zhǔn)，250-450nm /每1、2或5 nm的掃描校準(zhǔn)也可用）
A313擴(kuò)散器也可提供1、3、5和7毫米孔徑，允許測(cè)量更小的區(qū)域，例如聚焦的光束，以便于區(qū)域測(cè)繪，并且還可以測(cè)量更高的強(qiáng)度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化傳感器，內(nèi)置過濾器和光學(xué)元件，不能外部添加過濾片/光學(xué)交換元件，它的尺寸更小，為15 mm x 42 mm直徑。ILT國(guó)際光學(xué)UV LED固化輻照計(jì)規(guī)格說明書http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf
International Light國(guó)際光學(xué)UV固化測(cè)量輻照計(jì)型號(hào)參數(shù)表
| 輻照計(jì)探頭測(cè)量系統(tǒng) | 響應(yīng)波長(zhǎng) | 輻照度范圍 | 類型及應(yīng)用 |
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ILT800 CureRight輻照計(jì) ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-CUV：215-350 nm ILT800-UVF：平坦響應(yīng) 360-400 nm Flat, (275-450nm) |
315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 | 扁平，UV固化，UV烤箱，傳送帶曝光輻射 |
| ILT2400, XSD340AT7 | 320-475 nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，405nm紫外線UV固化，3D打印機(jī) |
| ILT2400, XSD340AT7, XIR395 | 395nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化等，校準(zhǔn)于395nm |
| ILT5000, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² | 臺(tái)式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT2400, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 1e-7 ~ 1 W/cm² | 手持式，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT5000, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-9 ~ 5 W/cm² | 臺(tái)式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-7 ~ 5 W/cm² | 手持式，UV固化，光輻射危害，窄帶335 |
| ILT5000/SED270/QT | 215-350 nm | 1e-9 ~ 1 W/cm² | 臺(tái)式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，UV LED |
| ILT5000, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 3e-8 ~ 20 W/cm² | 臺(tái)式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，氙氣閃光燈 |
| ILT5000, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 臺(tái)式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SSD001A | 250-400 nm | 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² | 臺(tái)式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400/SED270/QT | 215-350 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED能量計(jì) |
| ILT2400, SED005/UVF/A313輻照計(jì) | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV LED曝光輻照計(jì) |
| ILT2400, XSD005UVF集成薄探頭 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8W/cm2 | UVLED固化能量計(jì)，350-410nm平面響應(yīng) |
| ILT5000, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 3e-9 ~ 2 W/cm2 | 臺(tái)式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，窄帶335 |
| ILT2470XE UV Flash Meter | 215-350 nm | 7e-5 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，閃爍/脈沖或CW光源 |
美國(guó)ILT光探測(cè)器探頭濾片/輸入元件/校準(zhǔn)項(xiàng)代碼解析
A光刻膠過濾器：定制濾波器設(shè)計(jì)用于提供硅傳感器的“A”響應(yīng)（320-475 nm）
B光阻過濾器：濾波器旨在提供硅探測(cè)器的“B”響應(yīng)（326-401 nm）
NS185窄帶濾光片：紫外線，中心波長(zhǎng)為185nm的干涉濾光片
NSXXX UV窄帶濾光片：中心波長(zhǎng)為XXX納米的干涉濾光片，如NS254、NS313、NS335、NS365
QNDS1中性密度濾光片，10倍衰減；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減過濾片
WBSXXX寬帶濾光片：中心波長(zhǎng)為XXX納米的玻璃過濾器，如WBS320、WBS350、WBS375，通常與SED005探頭組合
TBLU：藍(lán)色濾光片和危險(xiǎn)過濾器，安裝用于硅探測(cè)器；
UVF：平坦響應(yīng)曲線探頭，用于UV LED固化測(cè)量；
W擴(kuò)撒器：用于ILT探測(cè)器的固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器，用于200-2100 nm的余弦響應(yīng)
A313：扁平石英分散器，安裝在A311空的過濾器環(huán)（高達(dá)4mm厚的過濾器）中
TD擴(kuò)撒器：用于ILT探測(cè)器的圓頂式聚四氟乙烯擴(kuò)散器，用于250-700 nm的光譜范圍
AT衰減器帽：提供X10衰減，沒有螺紋，滑到探測(cè)器的末端
QT：11mm特氟龍石英窗口擴(kuò)散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser；
XIR校準(zhǔn)選項(xiàng)：
X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)
At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm
