福州美國ILT SED005-UVF-A313 輻照計/照度計價格與型號參數(shù)
- 型號 類型 SED005-UVF-A313輻照計/照度計
- 制造商 品牌 美國ILT
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功能參數(shù)簡介：International Light ILT2400輻照計及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機測量系統(tǒng)精確度而設計，在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應，輻照度測量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波長的PIR校準過濾片，帶美國NIST可溯源ISO17025認證校準報告。
SED005-UVF-A313 輻照計/照度計圖片
美國ILT2400+SED005/UVF/A313輻照計UV LED曝光能量測量
美國ILT品牌為各種市場和應用提供高精度的光測量系統(tǒng)，包括照度計、輻照計、能量計，滿足廣泛的需求，解決光測量的固有困難。國際光學International Light測光表非常適合用作光度計photometers (勒克斯lux meters)、強度計intensity meters (坎德拉candela)、固化測量儀/輻照度計/光量計curing meters (劑量和曝光測量dose and exposure meters)、能量功率計power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。
ILT UV固化測量輻照計ILT2400帶NIST可溯源ISO17025認證校準的儀表和傳感器，測量速度高達100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持式的價格提供研究級的質(zhì)量。
大多數(shù)UV紫外線探頭過濾器具有鐘形光譜曲線，峰值相當窄。為了提高UV LED測量系統(tǒng)的精確度，美國ILT公司將高度穩(wěn)定的InGaAsp傳感器與平坦的玻璃濾光片和石英漫射片相結(jié)合，在用于UV固化的關(guān)鍵區(qū)域提供更均勻的響應。ILT2400輻照計+SED005/UVF/A313探頭組成的測量系統(tǒng)旨在簡化對UV LED曝光機固化的校準測量，專有的傳感器/濾波器/光學組件由美國ILT的工程團隊設計，可提供350-400 nm波段近乎平坦的響應。這種平坦的一致的響應允許測量和比較各種紫外LED波長，而不需要修改讀數(shù)以適應傳感器靈敏度的變化。這個系統(tǒng)也可以用來測量傳統(tǒng)的紫外線源。
美國International Light SED005/UVF/A313 UV-LED固化探頭規(guī)格
應用：UV LED固化測量、傳統(tǒng)紫外線固化能量輻照度
測量范圍： 5e-8至8e-1 W / cm2（0.05μW/cm2 ~ 800mW/cm2）
光譜范圍： 275-450nm （在UVLED主要作用波段350-400 nm具有平坦的響應曲線）
尺寸：直徑29 x 42mm
訂購部件號
ILT2400+SED005/UVF/A313（可選特定峰值波長的PIR校準，250-450nm /每1、2或5 nm的掃描校準也可用）
A313擴散器也可提供1、3、5和7毫米孔徑，允許測量更小的區(qū)域，例如聚焦的光束，以便于區(qū)域測繪，并且還可以測量更高的強度。另有XSD005UVF薄型UV LED固化傳感器，內(nèi)置過濾器和光學元件，不能外部添加過濾片/光學交換元件，它的尺寸更小，為15 mm x 42 mm直徑。ILT國際光學UV LED固化輻照計規(guī)格說明書http://www.testeb.com/download/201806/ILT2400_UVLED_SED005UVF.pdf
International Light國際光學UV固化測量輻照計型號參數(shù)表
| 輻照計探頭測量系統(tǒng) | 響應波長 | 輻照度范圍 | 類型及應用 |
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ILT800 CureRight輻照計 ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-CUV：215-350 nm ILT800-UVF：平坦響應 360-400 nm Flat, (275-450nm) |
315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 | 扁平，UV固化，UV烤箱，傳送帶曝光輻射 |
| ILT2400, XSD340AT7 | 320-475 nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，405nm紫外線UV固化，3D打印機 |
| ILT2400, XSD340AT7, XIR395 | 395nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化等，校準于395nm |
| ILT5000, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² | 臺式/實驗室，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT2400, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 1e-7 ~ 1 W/cm² | 手持式，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT5000, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-9 ~ 5 W/cm² | 臺式/實驗室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-7 ~ 5 W/cm² | 手持式，UV固化，光輻射危害，窄帶335 |
| ILT5000/SED270/QT | 215-350 nm | 1e-9 ~ 1 W/cm² | 臺式/實驗室，UV固化，UV LED |
| ILT5000, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 3e-8 ~ 20 W/cm² | 臺式/實驗室，UV固化，氙氣閃光燈 |
| ILT5000, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 臺式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SSD001A | 250-400 nm | 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² | 臺式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400/SED270/QT | 215-350 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED能量計 |
| ILT2400, SED005/UVF/A313輻照計 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV LED曝光輻照計 |
| ILT2400, XSD005UVF集成薄探頭 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8W/cm2 | UVLED固化能量計，350-410nm平面響應 |
| ILT5000, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 3e-9 ~ 2 W/cm2 | 臺式/實驗室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，窄帶335 |
| ILT2470XE UV Flash Meter | 215-350 nm | 7e-5 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，閃爍/脈沖或CW光源 |
美國ILT光探測器探頭濾片/輸入元件/校準項代碼解析
A光刻膠過濾器：定制濾波器設計用于提供硅傳感器的“A”響應（320-475 nm）
B光阻過濾器：濾波器旨在提供硅探測器的“B”響應（326-401 nm）
NS185窄帶濾光片：紫外線，中心波長為185nm的干涉濾光片
NSXXX UV窄帶濾光片：中心波長為XXX納米的干涉濾光片，如NS254、NS313、NS335、NS365
QNDS1中性密度濾光片，10倍衰減；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減過濾片
WBSXXX寬帶濾光片：中心波長為XXX納米的玻璃過濾器，如WBS320、WBS350、WBS375，通常與SED005探頭組合
TBLU：藍色濾光片和危險過濾器，安裝用于硅探測器；
UVF：平坦響應曲線探頭，用于UV LED固化測量；
W擴撒器：用于ILT探測器的固體石英內(nèi)半球擴散器，用于200-2100 nm的余弦響應
A313：扁平石英分散器，安裝在A311空的過濾器環(huán)（高達4mm厚的過濾器）中
TD擴撒器：用于ILT探測器的圓頂式聚四氟乙烯擴散器，用于250-700 nm的光譜范圍
AT衰減器帽：提供X10衰減，沒有螺紋，滑到探測器的末端
QT：11mm特氟龍石英窗口擴散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser；
XIR校準選項：
X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)
At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm
