紅河州日置HIOKI IM3523 LCR電橋測試儀價(jià)格與型號參數(shù)
- 型號 類型 IM3523LCR電橋測試儀
- 制造商 品牌 日置HIOKI
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功能參數(shù)簡介：日置HIOKI IM3523 LCR電橋測試儀測量頻率40Hz~200kHz，可測量Z,Y,θ,DCR(DC電阻)等15種參數(shù)，速度高達(dá)2ms，基本精度±0.05%，提供多種SMD治具及RS-232C、GP-IB通訊接口可選擇，應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測試。
IM3523 LCR電橋測試儀圖片
日本HIOKI日置IM3523 LCR測試儀40Hz~200KHz頻率2ms高速測量
HIOKI IM3523 LCR測試儀測量范圍40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA，基本精度±0.05％，測量參數(shù)包括Z阻抗[Ω]、Y導(dǎo)納[Ω]、θ相位角[°]、等效電阻及電感、X電抗[Ω]、G電導(dǎo)率[S]、B電納[S]等，內(nèi)置比較器和BIN功能，高速達(dá)2ms的快速測試時(shí)間。日置IM3523電橋測試儀是應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測試領(lǐng)域的理想選擇，尺寸小巧與長方形小型測試儀尺寸相同，易于組裝嵌入自動(dòng)機(jī)和產(chǎn)線工程系統(tǒng)內(nèi)部位置。測量結(jié)果或設(shè)置數(shù)據(jù)等可以直接通過面板上插入U(xiǎn)SB進(jìn)行保存，EXT I/O接口能輸出測量完成信號和判斷結(jié)果信號，也能輸入測量觸發(fā)信號等來控制儀器，另有RS-232C、LAN、GP-IB通訊模塊選件。為不同測試對象設(shè)計(jì)鑷型探頭、開爾文夾及多種SMD測試治具供客戶選購。
使用日置IM3523 LCR測試儀的相位測量功能，可以瞬間檢測出線圈的繞圈開始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤。而且，通過測量阻抗，可以檢查觸電、生產(chǎn)品和對比品的位置關(guān)系，這樣能進(jìn)行更加可靠的檢查。HIOKI IM3523測試儀在LCR模式下，能夠從測量項(xiàng)目中選擇2個(gè)進(jìn)行HI/IN/LO的判斷。判斷方法除了設(shè)置絕對值以外，還能設(shè)置%，Δ%。使用連續(xù)測量時(shí)，能夠根據(jù)多個(gè)測量條件·測量項(xiàng)目判斷。面板保存功能多樣，最多保存60組測量條件，還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動(dòng)讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。
日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER測試儀技術(shù)參數(shù)
| 型號 | IM3523 LCR測試儀 | IM3533測試儀 | IM3533-01測試分析儀 |
| 測量模式 |
LCR模式： 單一條件測量 連續(xù)測量模式： 通過已保存的條件連續(xù)測量(2條) 用于電線零件、管腳元件和SMD元件 |
LCR模式： 單一條件測量 變壓器測量模式： N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差 連續(xù)測量模式： 通過保存的條件進(jìn)行連續(xù)測量 LCR模式(最多60條) |
LCR模式：單一條件測量 變壓器測量模式：N,M,ΔL 連續(xù)測量模式： 通過已保存的條件進(jìn)行連續(xù)測量 LCR模式(最多60條) 分析模式(最多2條) 分析模式：用測量頻率掃描 (測量點(diǎn)2~801, 常規(guī)掃頻明細(xì)顯示) |
| 測量參數(shù) |
Z阻抗[Ω]、Y導(dǎo)納[Ω]、θ相位角[°]、 Rs等效串聯(lián)電阻=ESR[Ω]、 Rp并聯(lián)等效電路的電阻[Ω]、DCR X電抗[Ω]、G電導(dǎo)率[S]、B電納[S]、 Cs串聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、 Cp并聯(lián)等效電路的靜電容量[F]、 Ls串聯(lián)等效電路的電感[H]、 Lp并聯(lián)等效電路的電感[H]、 D損失系數(shù)=tanδ、Q因素(Q=1/D） |
Z, Y, θ, Rs(ESR), Rp, DCR(直流電阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D(tanδ), Q, N匝數(shù)比, M漏感, ΔL電感差, T 應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域， 及電容電感，電氣化學(xué) |
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| 量 程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程, (所有參數(shù)通過Z規(guī)定)，主機(jī)能保存32000組數(shù)據(jù) | ||
| 顯示范圍 |
Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp ： ±(0.000000[單位]~9.999999G[單位])，Z和Y為絕對值顯示 θ： ±(0.000°~999.999°)、D： ±(0.000000~9.999999)、Q： ±(0.00~99999.99)、Δ%： ±(0.0000%~999.9999%) |
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| 基本精度 | Z： ±0.05%rdg. θ： ±0.03° | ||
| 測量頻率 | 40Hz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn)) | 1mHz~200kHz (1mHz~10Hz步進(jìn)) | |
| 信號等級與阻抗 |
常規(guī)模式（輸出阻抗100Ω）： V模式·CV模式： 5 mV~5 Vrms, 1mV rms步進(jìn) CC模式： 10 μA~50 mA rms,10μA rms步進(jìn) |
常規(guī)模式（輸出阻抗100Ω）： V模式·CV模式：5mV~5Vrms, 1 mVrms步進(jìn) CC模式：10μA~50mArms, 10μArmsCC步進(jìn) 低阻抗高精度模式（輸出阻抗25Ω）： V模式·CV模式：5mV~2.5Vrms, 1m Vrms步進(jìn) CC模式：10μA~50mArms, 10μArms步進(jìn) |
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| 顯 示 | 單色LCD | 彩色TFT5.7英寸，顯示可設(shè)置ON/OFF | |
| 測量時(shí)間與速度 | 2ms(100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值)，速度模式FAST/MED/SLOW/SLOW2 | ||
| DC偏壓 測量 | - |
常規(guī)模式：-5.00V~5.00V (10mV步進(jìn)) 低阻抗高精度模式：-2.50V~2.50V (10mV步進(jìn)) |
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| BIN測量 | 主要參數(shù)10種，輔助參數(shù)1中，范圍外 | 2個(gè)項(xiàng)目10種，范圍外 | |
| 外部接口 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed) 選件：RS-232C/GP-IB/ LAN(10BASE-T/100BASE-TX) 可選擇安裝其中一種 |
EXT I/O、USB(Hi-Speed)、USB存儲 選件：RS-232C/GP-IB/LAN，可選擇安裝其中一種 |
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| 尺寸及重量與標(biāo)準(zhǔn)配置 |
[IM3523] 約260W×88H×203D mm,約2.4 kg [IM3533/IM3533-01] 約330W×119H×168D mm,約3.1 kg 標(biāo)配：主機(jī)、電源線、說明書、CD-R(通訊說明書，軟件) 需結(jié)合應(yīng)用單獨(dú)選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具 |
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IM3523測試儀規(guī)格說明書http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf
HIOKI IM3523 LCR測試儀探頭治具與通訊接口選件訂貨信息
日置IM3523、IM3533/IM3533-01：包含主機(jī)、電源線、使用說明書、CD-R(通訊說明書，樣品軟件)
測試治具、探頭不是標(biāo)配，請根據(jù)需要另外選購選件中的測試治具和探頭
[選件——外接通訊模塊]
Z3000 GP-IB接口、9151-02 GP-IB連接線
Z3001 RS-232C接口卡、Z3002 LAN接口
9268-10 DC偏置電壓單元 直連型，40Hz～8MHz，最大施加電壓DC±40V
9269-10 DC偏置電壓單元 直連型，40Hz～2MHz，最大電流DC 2A、電壓DC±40V
[用于引腳部件測試——測試治具、探頭]
L2000 4端子探頭：頻率DC～8 MHz，可測量端子直徑0.3mm～5 mm
9261-10測試治具：頻率DC～8 MHz，可測量端子直徑0.3mm～1.5mm
9140-10 4端子探頭：主機(jī)直連型，DC～8 MHz，可測0.3mm～2 mm
[SMD測試治具]
IM9110：直連型，對應(yīng)0201尺寸，用于側(cè)面電極SMD，電極2端子結(jié)構(gòu)DC～1MHz
IM9100：對應(yīng)0402,0603,1005這3種尺寸，電極4端子結(jié)構(gòu)可進(jìn)行高精度測量，DC～8MHz
- 上一個(gè)：日置HIOKI IM3533 LCR測試儀1mHz~200KHz電容電感阻抗高速高精度測量
- 下一個(gè)：沒有了
