開封鈦淦TEGAM tegam-1750 微歐計價格與型號參數(shù)
- 型號 類型 tegam-1750微歐計
- 制造商 品牌 鈦淦TEGAM
- PDF規(guī)格說明書 在線閱讀下載
-
功能參數(shù)簡介：業(yè)內(nèi)速度最快、精度最高的微歐計TEGAM 1750測量范圍2mΩ至20MΩ、100nΩ分辨率，特有的技術(shù)使其在測試微歐級小電阻時也非常的精確和穩(wěn)定，鈦淦1750型微歐計極易編程，兼容GPIB，提供接口包括IEEE-488和RS-232C和RS-422。
tegam-1750 微歐計圖片
美國TEGAM 1750可編程精密微歐計
美國TEGAM 1750型高速可編程微歐姆計是一款在高精度，高速度低電阻測量領(lǐng)域突破性的產(chǎn)品。1750是首個完全集成的，多模式，可控總線，高速數(shù)字歐姆表，旨在超過其他所有電阻表并提高整體測試系統(tǒng)的性能。■■深圳市格信達(dá)科技代理美國鈦淦儀器公司TEGAM 1750微歐計，提供最優(yōu)的價格，最快的交貨?！觥?/p>
TEGAM 1750可編程精密微歐計特點
“TRUE-SPEED”：高速度測試能力，快速，準(zhǔn)確
量程2m?~20M?，精度0.02%，分辨率1µ?、100 nΩ
自動熱和電磁噪聲抑制，可編程參考電流
兼容GPIB，RS-232C，和RS - 422
交流供電，或電池供電，滿足便攜應(yīng)用的要求，可選電池供電版TEGAM1750/BAT型號
適用于線纜、保險絲、無源器件、金屬材料等眾多需要精密低電阻測試的應(yīng)用
鈦淦TEGAM 1750可編程精密微歐計量程規(guī)格
| 量程/分辨率 | 參考電流(可用選擇) | ||||||||
| 1A | 100mA | 10mA | 1mA | 100μA | 10μA | 1μA | 100nA | ||
| 2mΩ | 100nΩ | 2mV | |||||||
| 20mΩ | 1μΩ | 20 mV | 2 mV | ||||||
| 200mΩ | 10μΩ | 200 mV | 20 mV | ||||||
| 2Ω | 100μΩ | 200 mV | 20 mV | ||||||
| 20Ω | 1mΩ | 200 mV | 20 mV | ||||||
| 200Ω | 10mΩ | 2 V | 200 mV | 20 mV | |||||
| 2kΩ | 100mΩ | 2 V | 200 mV | ||||||
| 20kΩ | 1Ω | 2 V | 200 mV | ||||||
| 200kΩ | 10Ω | 2 V | |||||||
| 2MΩ | 100Ω | 2 V | |||||||
| 20MΩ | 1kΩ | 2 V | |||||||
| 最大引線電阻 | 500 mΩ | 5 Ω | 50 Ω | 100 Ω | 100 Ω | 100 Ω | 100 Ω | 100 Ω | |
美國鈦淦儀器公司tegam 1750型微歐計詳細(xì)規(guī)格參數(shù)說明書：http://www.testeb.com/download/201503/tegam1750.pdf
TEGAM1750微歐計高性能
1750的優(yōu)勢在于用戶可以通過一系列的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置菜單快速配置它。對于1750，您可以選擇測量模式（電阻器，電阻比較器或百分比比較器），和測量范圍（2mΩ至20MΩ）。你也可以選擇參考電流和觸發(fā)方試。你還可以配置延遲時間，穩(wěn)定時間和自動熱和噪音抑制功能。如果你不需要所有這種靈活設(shè)置，只需按一下自動量程按鈕即可。
TEGAM 1750微歐計易于集成
1750極易編程。1750提供接口包括IEEE - 488和RS - 232C和RS - 422。為了最大限度地提高您的編程效率，這些接口的每個操作使用相同的編程命令集和前面板的指示，保證了所有操作的持續(xù)性。
TEGAM 1740型高速可編程微歐計
與1750型相比，tegam 1740微歐計沒有2 mΩ這個檔位，因此它的分辨率為1μΩ，適用于線纜、連接件、開關(guān)、無源器件、金屬焊點、搭接電阻等眾多需要精密低電阻測試的應(yīng)用。鈦淦1740與1750最大的共同點就是它們都具有0.02%的基本精度，在測試小電阻值時，可以很穩(wěn)定的將讀數(shù) 顯示出來，而不會產(chǎn)生讀數(shù)跳動的現(xiàn)象。Tegam 1740/1750微歐計特有的技術(shù)使其在測試微歐級小電阻時也非常的精確和穩(wěn)定，沒有傳統(tǒng)低電阻測試設(shè)備的固定偏差、讀數(shù)跳動等情況，使微歐級的低電阻測試變得非常容易。
