南京美國ILT SED033-A-W 輻照計(jì)/照度計(jì)價(jià)格與型號參數(shù)
- 型號 類型 SED033-A-W輻照計(jì)/照度計(jì)
- 制造商 品牌 美國ILT
- PDF規(guī)格說明書
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功能參數(shù)簡介：美國International Light PCB印刷線路板曝光測量ILT2400輻照計(jì)與SED033/A/W探頭作用于320-475nm波長頻譜，帶有專門用于A波段的光刻膠過濾器及W擴(kuò)散器，可測定2e-7至2 W/cm2輻照度，測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。
SED033-A-W 輻照計(jì)/照度計(jì)圖片
美國ILT2400+SED033/A/W紫外輻照計(jì)320-475nm光刻膠
Photoresist光刻膠曝光的加工設(shè)備通常非常緊湊并且沒有足夠的空間來進(jìn)行輻照度測量。美國ILT公司致力于提供各種獨(dú)特的光刻膠專用儀器來實(shí)現(xiàn)這些困難的測量。International Light ILT2400輻照計(jì)具有采用可能換分離探頭設(shè)計(jì)，具有8個(gè)量級的動(dòng)態(tài)測量范圍，測量速度可達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持價(jià)格研究質(zhì)量。SED033/A/W探頭帶有專為硅傳感器提供“A”波段響應(yīng)（320-475 nm）的光刻膠過濾器，以及W固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器，量程范圍2e-7 至2 W/cm²。
ILT測光表是易于使??用的高性能儀器，非常適合用作光度計(jì)photometers (勒克斯lux meters)、強(qiáng)度計(jì)intensity meters (坎德拉candela)、固化測量儀/輻照度計(jì)/光量計(jì)curing meters (劑量和曝光測量dose and exposure meters)、能量功率計(jì)power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)?？梢杂嗁彶煌墓馓綔y器探頭、濾光片、光測量輸入元件和波長校準(zhǔn)來獲得更精確的測量結(jié)果。
美國International Light PCB線路板曝光測量輻照計(jì)與探頭選型表
| 輻照計(jì)/探頭組合 | 響應(yīng)波長頻譜 | 測量范圍 | 類型及應(yīng)用 |
| ILT5000, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-9 ~ 2 W/cm² |
臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² |
手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1000/A/W | 320-475 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² |
手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT1700, SED033/A/W | 320-475 nm | 7e-9 ~ 4 W/cm² | 臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上 |
| ILT2400, XSD140A | 320-475 nm | 4e-8 ~ 0.7 W/cm² |
手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340A | 320-475 nm | 8e-7 ~ 10 W/cm² | 同上，大功率高強(qiáng)度輻照探頭 |
| ILT5000, SED033/B/W | 326-401 nm | 3e-10 ~ 0.2 W/cm² |
臺式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, SED033/B/W | 326-401 nm | 2e-8 ~ 0.2 W/cm² | 手持式，同上 |
| ILT1700, SED033/B/W | 326-401 nm | 5e-9 ~ 0.5 W/cm² | 臺式，同上 |
| ILT1000/B/W | 326-401 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm² | 手持式，同上 |
| ILT2400, XSD140B | 326-401 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm² |
手持式，Photoresist光刻/光阻劑， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
| ILT2400, XSD340B | 326-401 nm | 2e-6 ~ 30 W/cm² | 手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，高強(qiáng)度測量 |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² |
手持式，超薄傳感器， PCB板曝光系統(tǒng)，UVA光源，UV-Vis光源 |
International Light萬國光學(xué)濾片及輸入元件代碼解析
A光刻膠過濾器：定制濾波器設(shè)計(jì)用于提供硅傳感器的“A”響應(yīng)（320-475 nm）
B光阻過濾器：濾波器旨在提供硅探測器的“B”響應(yīng)（326-401 nm）
NS185窄帶濾光片：紫外線，中心波長為185 nm的干涉濾光片
QNDS1中性密度濾光片，10倍衰減；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減
W擴(kuò)撒器：用于ILT探測器的固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器，用于200-2100 nm的余弦響應(yīng)
TD擴(kuò)撒器：用于ILT探測器的圓頂式聚四氟乙烯擴(kuò)散器，用于250-700 nm的光譜范圍
AT衰減器帽：提供X10衰減，沒有螺紋，滑到探測器的末端
QT：11mm特氟龍石英窗口擴(kuò)散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser
