深圳美國ILT XIR395 輻照計(jì)/照度計(jì)價(jià)格與型號參數(shù)
- 型號 類型 XIR395輻照計(jì)/照度計(jì)
- 制造商 品牌 美國ILT
- PDF規(guī)格說明書
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功能參數(shù)簡介：International Light ILT2400輻照計(jì)及XSD340AT7探頭、XIR395校準(zhǔn)片用于精確控制395nm波長曝光強(qiáng)度等級和曝光時(shí)間，測量速度高達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)證書。
XIR395 輻照計(jì)/照度計(jì)圖片
美國ILT2400輻照計(jì)探頭XIR395nm專用波長校準(zhǔn)片
美國International Light ILT2400輻照計(jì)可自由配置光探測器、輸入光學(xué)器件、過濾片和校準(zhǔn)片，用于測量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光學(xué)參數(shù)。測量速度高達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，以手持價(jià)格研究質(zhì)量。
ILT2400+XSD340AT7+XIR395輻照測量系統(tǒng)方案包含ILT2400測光表以及校準(zhǔn)于395nm波長的XSD340AT7探頭，專門用于精確控制作用波長為395nm曝光機(jī)設(shè)備UV固化工藝的曝光強(qiáng)度等級和曝光時(shí)間，輻照度量程8e-6 ~ 60 W/cm²，儀器及探頭均附帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)證書。XIR395為IL探頭輻照度響應(yīng)校準(zhǔn)選項(xiàng)，校準(zhǔn)于395nm中心波長。X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)，At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, Calibration At 395nm。
International Light UV固化曝光測量儀探頭選型表
| 輻照計(jì)探頭組合 | 響應(yīng)波長頻譜 | 測量范圍 | 類型及應(yīng)用 |
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ILT800 CureRight Radiometer ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-CUV：215-350 nm ILT800-UVF：平坦響應(yīng) 360-400 nm Flat, (275-450nm) |
315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 |
扁平，UV固化/UV LED，UV烤箱 輸送帶曝光機(jī)輻射 |
| ILT2400, XSD340AT7 | 320-475 nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化，3D打印機(jī) |
| ILT2400, XSD340AT7, XIR395 | 395nm | 8e-6 ~ 60 W/cm² | 手持式，UV固化等，校準(zhǔn)于395nm |
| ILT5000, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-8 ~ 2.33 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT1700, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 2.33e-9 ~ 2.33 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT2400, SED005/WBS320/W | 250-400 nm | 1e-7 ~ 1 W/cm² | 手持式，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT1000/WBS320/T1MM | 250-400 nm | 7e-5 ~ 1e3 W/cm² | 手持式，UV固化，寬帶紫外線 |
| ILT5000, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-9 ~ 5 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，窄帶335 |
| ILT1700, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 1e-8 ~ 5 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335/W | 330-340 nm | 5e-7 ~ 5 W/cm² |
手持式，紫外線固化，光輻射危害測量， 窄帶335 |
| ILT5000/SED270/QT | 215-350 nm | 1e-9 ~ 1 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，UV LED |
| ILT5000, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 3e-8 ~ 20 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，氙氣閃光燈 |
| ILT1700, SED033/B/QNDS2/W | 326-401 nm | 5.7e-8 ~ 57 W/cm² | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，氙氣閃光燈 |
| ILT5000, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 臺式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 5e-7 ~ 100 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SED005/WBS320/RAMP | 250-400 nm | 8e-6 ~ 10 W/cm² | 臺式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SSD001A | 250-400 nm | 2.22e-7 ~ 0.9 W/cm² | 臺式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT2400, SSD001 | 260-400 nm | 6e-6 ~ 0.9 W/cm² | 手持式，UV固化，Low profile high UV |
| ILT1700, SED033/TBLU/T1MM | 370-515 nm | 1.3e-7 ~ 12.9 W/cm² | 臺式，UV固化，Dental curing牙科治療 |
| ILT2400/SED270/QT | 215-350 nm | 7e-8 ~ 1 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED固化能量計(jì) |
| ILT2400, SED005/UVF/A313 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8 W/cm2 | 手持式，UV固化，UV-LED輻照度計(jì) |
| ILT2400, XSD005UVF薄型探頭 | 275-450 nm | 5e-8 ~ 0.8W/cm2 | 350-410nm波段UV-LED固化能量計(jì) |
| ILT5000, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 3e-9 ~ 2 W/cm2 | 臺式/實(shí)驗(yàn)室，UV固化，窄帶335 |
| ILT2400, SED005/NS335-II/W | 327-342 nm | 2e-7 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，窄帶335 |
| ILT2470XE UV Flash Meter | 215-350 nm | 7e-5 ~ 2 W/cm2 | 手持式，UV固化，閃爍/脈沖或CW光源 |
美國International Light光探測器探頭濾片/輸入元件/校準(zhǔn)項(xiàng)代碼解析
A光刻膠過濾器：定制濾波器設(shè)計(jì)用于提供硅傳感器的“A”響應(yīng)（320-475 nm）
B光阻過濾器：濾波器旨在提供硅探測器的“B”響應(yīng)（326-401 nm）
NS185窄帶濾光片：紫外線，中心波長為185nm的干涉濾光片
NSXXX UV窄帶濾光片：中心波長為XXX納米的干涉濾光片，如NS254、NS313、NS335、NS365
QNDS1中性密度濾光片，10倍衰減；QNDS2 100倍、QNDS3 1000倍衰減過濾片
WBSXXX寬帶濾光片：中心波長為XXX納米的玻璃過濾器，如WBS320、WBS350、WBS375，通常與SED005探頭組合
TBLU：藍(lán)色濾光片和危險(xiǎn)過濾器，安裝用于硅探測器； UVF：；
W擴(kuò)撒器：用于ILT探測器的固體石英內(nèi)半球擴(kuò)散器，用于200-2100 nm的余弦響應(yīng)
A313：扁平石英分散器，安裝在A311空的過濾器環(huán)（高達(dá)4mm厚的過濾器）中
TD擴(kuò)撒器：用于ILT探測器的圓頂式聚四氟乙烯擴(kuò)散器，用于250-700 nm的光譜范圍
AT衰減器帽：提供X10衰減，沒有螺紋，滑到探測器的末端
QT：11mm特氟龍石英窗口擴(kuò)散器Teflon/quartz 11 mm Window Diffuser； T1MM：；
XIR校準(zhǔn)選項(xiàng)：
X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)
At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, such as XIR395 for calibration at 395nm
