烏魯木齊安捷倫是德科技Keysight agilent-4263b LCR電橋測試儀價格與型號參數(shù)
- 型號 類型 agilent-4263bLCR電橋測試儀
- 制造商 品牌 安捷倫是德科技Keysight
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功能參數(shù)簡介：Agilent安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋專門用于對生產線元件進行評估，以及對臺式應用進行基本阻抗測試，還可以利用選件方便地進行變壓器測量。安捷倫4263B LCR測試儀已停產，尚提供支持。
agilent-4263b LCR電橋測試儀圖片
是德安捷倫4263b數(shù)字電橋測試儀agilent 4263b LCR Meter停產庫存
是德科技安捷倫LCR測試儀Agilent4263B電橋主要特性
測量參數(shù)：Z，Y，U，R，X，G，B，L，C，D，Q
ESR-4263B-001選件：增加DCR（直流電阻），匝數(shù)比（N），互感（M）
Agilent 4263B基本測量精度：0.1%
5種測試頻率：100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz、100 kHz
交流測試信號電平：20 mV至1 Vrms，以5mVrms步進，用以評估電壓特性
內部直流偏置：電平1.5V和2V，外部直流偏置：0V至2.5V
測試信號電平監(jiān)測功能：可監(jiān)測電壓和電流，當充電電容器連接到輸入端時內部電路起保護作用
Agilent 4263B lcr表測量速度：最快25 ms，提高測試效率
接觸檢查功能：可檢測測試夾具與器件之間的接觸故障，接觸檢查的附加時間為5ms
Keysight 4263B LCR表高效的電解電容器測試，可通過GPIB接口控制儀器
agilent 4263b 說明書下載地址
http://www.testeb.com/download/201412/20141228125956_921.pdf
是德安捷倫LCR數(shù)字電橋HP4263B | HP 4263B | Agilent 4263B技術規(guī)格
| 測量參數(shù) | |Z|，|Y|，θ，R，X，G，B，L，C，Q，D，ESR | |
| 選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量 | |
| 測量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
| 數(shù)學功能 | 偏差和百分偏差 | |
| 測試電纜長度 | 0m，1m，2m，4m，(頻率=100/120/1kHz);0m，1m，2m(頻率=10kHz/20kHz);0m，1m(頻率=100kHz) | |
| 測試頻率 | 100Hz，120Hz，1kHz，10kHz和100kHz | |
| 選件002 | 增加20kHz測試頻率 | |
| 頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz，1kHz，10kHz，20kHz，100kHz)，±(10%+10mV) | |
| 輸出阻抗 | 100Ω±10%，25Ω±10%(≤1Ω量程） | |
| 交流測試信號電平 | 20mV~1Vrms，以5mVrms分檔 | |
| 精度 | ±（10%+10mV) | |
| 電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) | |
| 外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
| 測量范圍 | 參數(shù) | 測量范圍 |
| |Z|，R，X | 1mΩ-100MΩ | |
| |Y|，G，B | 10nS-1000S | |
| C | 1pF-1F | |
| L | 10nH-100kH | |
| D | 0.0001-9.9999 | |
| Q | 0.1-9999.9 | |
| θ | -180°~+180° | |
| DCR | 1mΩ-100MΩ | |
| N | 0.9-200（待定） | |
| L，M | 1μH-100H（待定） | |
| Δ% | -999.99%-+999.99% | |
| 測量精度： | ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|，R，X，|Y|，G，B，CL) | |
| 測量時間 | ||
| 模式 | 時間（典型值） | |
| 短 | 25ms | |
| 中等 | 65ms | |
| 長 | 500ms | |
| 測試信號電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
| 前端保護： |
當充電電容器連接到輸入端時內部電路便函起保護作用。最大電容器電壓為；在 Vmax≤250V時，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。 |
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| 顯示數(shù)字： | 安捷倫4263b數(shù)字電橋3，4或5位（可選擇） | |
| 開路/短路誤差為0： | 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差 | |
| 負載： | 利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度 | |
| 比較功能： | 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結果 | |
| 接觸檢查功能： | 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms | |
| 存儲/調用： | 可以存儲和從內部非易失存儲器調用10個儀器設置 | |
| 連續(xù)存儲功能： | 若儀器補關斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設置（直流偏置接通/切斷除外）將自動被存儲起來（在23°±5℃下≦72小時） | |
| GPIB接口 | 安捷倫4263b所有控制設置，被測值和比較器信息 | |
| 處理器接口 | 所有輸出信號均為負邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號，測量結束和報警。輸入信號包括鍵鎖定和外觸發(fā) | |
