HIOKI IM3523 LCR測(cè)試儀測(cè)量范圍40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA，基本精度±0.05％，測(cè)量參數(shù)包括Z阻抗[Ω]、Y導(dǎo)納[Ω]、θ相位角[°]、等效電阻及電感、X電抗[Ω]、G電導(dǎo)率[S]、B電納[S]等，內(nèi)置比較器和BIN功能，高速達(dá)2ms的快速測(cè)試時(shí)間。日置IM3523電橋測(cè)試儀是應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇，尺寸小巧與長(zhǎng)方形小型測(cè)試儀尺寸相同，易于組裝嵌入自動(dòng)機(jī)和產(chǎn)線工程系統(tǒng)內(nèi)部位置。測(cè)量結(jié)果或設(shè)置數(shù)據(jù)等可以直接通過面板上插入U(xiǎn)SB進(jìn)行保存，EXT I/O接口能輸出測(cè)量完成信號(hào)和判斷結(jié)果信號(hào)，也能輸入測(cè)量觸發(fā)信號(hào)等來控制儀器，另有RS-232C、LAN、GP-IB通訊模塊選件。為不同測(cè)試對(duì)象設(shè)計(jì)鑷型探頭、開爾文夾及多種SMD測(cè)試治具供客戶選購(gòu)。

使用日置IM3523 LCR測(cè)試儀的相位測(cè)量功能，可以瞬間檢測(cè)出線圈的繞圈開始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤。而且，通過測(cè)量阻抗，可以檢查觸電、生產(chǎn)品和對(duì)比品的位置關(guān)系，這樣能進(jìn)行更加可靠的檢查。HIOKI IM3523測(cè)試儀在LCR模式下，能夠從測(cè)量項(xiàng)目中選擇2個(gè)進(jìn)行HI/IN/LO的判斷。判斷方法除了設(shè)置絕對(duì)值以外，還能設(shè)置%，Δ%。使用連續(xù)測(cè)量時(shí)，能夠根據(jù)多個(gè)測(cè)量條件·測(cè)量項(xiàng)目判斷。面板保存功能多樣，最多保存60組測(cè)量條件，還能保存128個(gè)開路/短路補(bǔ)償和線長(zhǎng)補(bǔ)償?shù)鹊难a(bǔ)償值。使用面板功能讀取所保存的測(cè)量條件。除了手動(dòng)讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號(hào)的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動(dòng)化檢查產(chǎn)線的時(shí)間。

日置HIOKI IM3523/IM3533 LCR METER測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

IM3523測(cè)試儀規(guī)格說明書http://www.testeb.com/download/202002/HIOKI_IM3523_IM3533.pdf

HIOKI IM3523 LCR測(cè)試儀探頭治具與通訊接口選件訂貨信息

日置IM3523、IM3533/IM3533-01：包含主機(jī)、電源線、使用說明書、CD-R(通訊說明書，樣品軟件)

測(cè)試治具、探頭不是標(biāo)配，請(qǐng)根據(jù)需要另外選購(gòu)選件中的測(cè)試治具和探頭

[選件——外接通訊模塊]

Z3000 GP-IB接口、9151-02 GP-IB連接線

Z3001 RS-232C接口卡、Z3002 LAN接口

9268-10 DC偏置電壓?jiǎn)卧?直連型，40Hz～8MHz，最大施加電壓DC±40V

9269-10 DC偏置電壓?jiǎn)卧?直連型，40Hz～2MHz，最大電流DC 2A、電壓DC±40V

[用于引腳部件測(cè)試——測(cè)試治具、探頭]

L2000 4端子探頭：頻率DC～8 MHz，可測(cè)量端子直徑0.3mm～5 mm

9261-10測(cè)試治具：頻率DC～8 MHz，可測(cè)量端子直徑0.3mm～1.5mm

9140-10 4端子探頭：主機(jī)直連型，DC～8 MHz，可測(cè)0.3mm～2 mm

[SMD測(cè)試治具]

IM9110：直連型，對(duì)應(yīng)0201尺寸，用于側(cè)面電極SMD，電極2端子結(jié)構(gòu)DC～1MHz

IM9100：對(duì)應(yīng)0402,0603,1005這3種尺寸，電極4端子結(jié)構(gòu)可進(jìn)行高精度測(cè)量，DC～8MHz